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  • BX-Y1245E1200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀
    BX-Y1245E1200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀

    1200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。

    時間:2024-05-15型號:BX-Y1245E
  • BX-Y1245F1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀
    BX-Y1245F1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀

    1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。

    時間:2024-05-15型號:BX-Y1245F
  • BX-Y1245G1600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀
    BX-Y1245G1600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀

    1600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。

    時間:2024-05-15型號:BX-Y1245G
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