半自動觸屏四探針測試儀方法，采用步進系統自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數據、PC軟件采集和數據處理實現自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數據統計分析；提供標準校準電阻件.
半自動四探針觸屏測試儀方法，采用步進系統自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數據、PC軟件采集和數據處理實現自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數據統計分析；提供標準校準電阻件.
半自動四探針觸屏測試儀方法，采用步進系統自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數據、PC軟件采集和數據處理實現自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數據統計分析；提供標準校準電阻件.
液晶顯示高阻四探針測試儀覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試,硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻半導體材料,晶圓、太
