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數字式四探針測試計   四探針測試計  半導體四探針檢測儀

數字式四探針測試計 四探針測試計 半導體四探針檢測儀

簡要描述:測量范圍
電阻率:10-2~102Ω-cm;
方塊電阻:10-1~103Ω/□;
電阻:10-3~9999Ω
可測半導體材料尺寸
直徑:Φ15~100mm;
長(或高)度: ≤400mm

產品型號: DL10-1934B

所屬分類:·電子測試與測量

更新時間:2024-05-21

詳細說明:

數字式四探針測試計   四探針測試計  半導體四探針檢測儀   

型號:DL10-1934B

測量范圍 

電阻率:10-2102Ω-cm;

方塊電阻:10-1103Ω/□;

電阻:10-39999Ω 

可測半導體材料尺寸 

直徑:Φ15100mm; 

長(或高)度: ≤400mm 

外形尺寸 

主機 170mmD)×130 mmW)×50mmH) 

電源 

功 耗:<1W; 

電源適配器:

輸入:220V±10% 50Hz; 

輸出:DC5V±10% 

 

 

 

北京北信未來電子科技中心

:王華

 

www.lcs168.com



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