數字式四探針測試計 四探針測試計 半導體四探針檢測儀
簡要描述:測量范圍 電阻率:10-2~102Ω-cm;方塊電阻:10-1~103Ω/□;電阻:10-3~9999Ω 可測半導體材料尺寸 直徑:Φ15~100mm; 長(或高)度: ≤400mm
產品型號: DL10-1934B
所屬分類:·電子測試與測量
更新時間:2024-05-21
詳細說明:
數字式四探針測試計 四探針測試計 半導體四探針檢測儀
型號:DL10-1934B
測量范圍
電阻率:10-2~102Ω-cm;
方塊電阻:10-1~103Ω/□;
電阻:10-3~9999Ω
可測半導體材料尺寸
直徑:Φ15~100mm;
長(或高)度: ≤400mm
外形尺寸
主機 170mm(D)×130 mm(W)×50mm(H)
電源
功 耗:<1W;
電源適配器:
輸入:220V±10% 50Hz;
輸出:DC5V±10%
北京北信未來電子科技中心
:王華
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:www.lcs168.com